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SQM-160 多层膜速率-膜厚监测仪
简介:
SQM-160 使用久经检验的 INFICON 石英晶片振荡技术测 量薄膜沉积过程中的速率和膜厚 . 标准型为两个探头输 入, 可选四个探头输入 . 两个记录仪输出用于提供模拟速 率与膜厚讯号 .

产品详情

产品特性

探头输入可指定不同的材料,大型系统中,为了精确控制,可以将多个探头信号平均,也可以配置成双探头,速率采样模式可在高速率镀膜工艺中延长带挡板探头的使用寿命。客户可选择速率显示精度0.1Å/秒或0.01Å/秒,也可以选择显示频率或质量。SQM-160有四个继电器输出,可用于控制源或探头挡板,也可作为时 间控制点,厚度控制点或晶振失效的控制信号,数字信 号输入可以实现外部启动仪器,停止测量或读值归零。

SQM-160带有一个RS-232端口和Windows®软件,帮助您用计算机设置仪器 . 软件可用于设定与贮存全部参数, 运行仪器, 和用Excel®文件格式保存过程数据USB或以太网选项增加通讯的灵活性。


使用方便

当速率和膜厚测量开始时,按Zero(置零)将上次膜厚的读值归零,接着按Shutter(挡板)打开源或探头挡板又大又亮的显示器同时显示膜厚和速率读值,可从室内的 任意角落读出当达到要求的膜厚, 或达到预定的时间,挡板关闭,相应的面板信号灯亮任何时候按 XtalLife(晶体寿命)按钮可查阅剩余的晶体寿命两组菜单用来设置贮存仪器控制的99个膜系参数按Program(程序)可进入菜单旋转设定旋钮来选择/编写参数主显示器可显示菜单提示信息,所有数值显示在辅助(时间)显示器上.


高精度-低成本

在10读值/秒下的标准频率分辨率为0.3Hz高精度选项在10读值/秒下将分辨率提高至的0.03Hz在整个运筹范围内温度稳定性为2ppm集成高精度与高稳定性于一

台仪器中,如此低的价格是无可匹敌的! 

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